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深圳市泰立仪器仪表有限公司 
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| 35DL超声波测厚仪 |
35DL超声波测厚仪产品信息查阅可以访问深圳市泰立仪器仪表有限公司网址：http://www.tl17.com/ArticleShow.asp?ArticleID=4458
35型、35DL型、35HP型和35DL-HP型技术规格
测量
模式1：
使用接触式探头，测量在激励脉冲和*一个底面回波之间的时间间隔。
模式2：
使用延迟线式或水浸式探头时，测量在激励脉冲后的*一个界面回波和*一个底面回波之间的时间间隔。
模式3：
使用延迟线式或水浸式探头，测量在激励脉冲之后，位于*一个界面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔。
测量类型：厚度、声速、渡越时间。
厚度测量范围*：0.08毫米～635毫米(0.003英寸～25英寸)
*厚度范围因型号、材料、探头种类、表面条件和所选设置的不同而不同。
材料声速范围：0.5080毫米/微秒～18.699毫米/微秒
(0.02000英寸/微秒～0.7362英寸/微秒)
分辨率(通过键区可选)：
低：
0.1 mm
(0.01 in.)
标准：
0.01 mm
(0.001 in.)
高：
0.001 mm
(0.0001 in.)
(35型和35DL型)
渡越时间测量范围：0.0 µs～109.5 µs
渡越时间分辨率：固定在000.01 µs。
测量更新速率：4、8、16或*大频率值(16～20 Hz，因应用和测量模式不同而不同)。
探头频率范围：2.25 MHz～30 MHz(35型和35DL型)
0.5 MHz～5.0 MHz(35HP型和35DL-HP型) |
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